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• 200 1_ |a 集成电路测试基础 |A ji cheng dian lu ce shi ji chu |b 专著 |f 谷颜秋主编 |g 佛山市联动科技股份有限公司编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022.07

• 215 __ |a 10,320页 |c 图 |d 26cm

• 225 1_ |a 集成电路产业知识赋能工程系列丛书

• 330 __ |a 本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章，主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。

• 333 __ |a 集成电路学习者

• 606 0_ |a 集成电路 |x 电路测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 谷颜秋 |A gu yan qiu |4 主编

• 712 02 |9 fo shan shi lian dong ke ji gu fen you xian gong si |a 佛山市联动科技股份有限公司 |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20220727

• 856 __ |q image |s 1046.92K |u http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=2ae581620000e9XXXX

• 904 __ |a 2ae581620000e9XXXX |b 电子科学与技术 |c 不可供 |d 成人学术 |e 否

• 905 __ |a LYVC |d TN407/E0029992

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