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• 010 __ |a 978-7-5647-2907-3 |d CNY22.60 |f CNY11.30

• 092 __ |a CN |b 人天680-2935

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• 200 1_ |a 半导体物理实验 |A ban dao ti wu li shi yan |f 李志彬，陈新安主编

• 210 __ |a 成都 |c 电子科技大学出版社 |d 2015.04

• 215 __ |a 116页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书共包括实验项目18个，其中10个为半导体物理实验，8个为半导体器件实验。主要包括：四探针法测量电阻率；P-N导电类型鉴别；椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数；激光测定单晶硅的晶向等。

• 333 __ |a 半导体物理实验人员

• 606 0_ |a 半导体器件 |x 半导体物理 |x 实验

• 690 __ |a TN303-33 |v 5

• 701 _0 |a 李志彬 |A li zhi bin |4 主编

• 701 _0 |a 陈新安 |A li zhi bin |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20150619

• 856 __ |q text |s 54450.22K |u https://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=22fd718a000152XXXX

• 904 __ |a 22fd718a000152XXXX |b 电子科学与技术 |c 可供 |d 成人学术 |e 否

• 905 __ |a LYVC |d TN303-33/E0155351

• 906 __ |a E0155351 |b E0155351 |c TN303-33/E0155351 |d 电子图书 |e 11.30

• 920 __ |a 441400 |z 1