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MARC状态:已编 文献类型:电子图书 浏览次数:46

题名/责任者:
X射线衍射理论与实践.Ⅱ/黄继武,李周等编著
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2021.07
ISBN及定价:
978-7-122-38012-8/CNY46.00
载体形态项:
182页:图;26cm
并列正题名:
Theory and practice of X-ray diffraction.Ⅱ
个人责任者:
黄继武 编著
个人责任者:
李周 编著
学科主题:
X射线衍射-教材-高等学校
中图法分类号:
O434.1
一般附注:
教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材
提要文摘附注:
本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括:宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节:从基础理论开始,导出实验原理和实验方法,最后结合科研需要,通过应用实例讲解,进行操作技能培训,并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法,第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础;第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具,提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。
使用对象附注:
本书可作为这些专业本科生、研究生的教学用书,对从事X射线衍射工作的技术人员和科研工作者也是很好的参考工具书
电子资源:
http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=29a22cc900026dXXXX
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
O434.1/E0055577 E0055577   罗庄校区—电子图书     可借 电子图书
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