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- 题名/责任者:
- X射线衍射理论与实践.Ⅱ/黄继武,李周等编著
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2021.07
- ISBN及定价:
- 978-7-122-38012-8/CNY46.00
- 载体形态项:
- 182页:图;26cm
- 个人责任者:
- 黄继武 编著
- 个人责任者:
- 李周 编著
- 学科主题:
- X射线衍射-教材-高等学校
- 中图法分类号:
- O434.1
- 一般附注:
- 教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材
- 提要文摘附注:
- 本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括:宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节:从基础理论开始,导出实验原理和实验方法,最后结合科研需要,通过应用实例讲解,进行操作技能培训,并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法,第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础;第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具,提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。
- 使用对象附注:
- 本书可作为这些专业本科生、研究生的教学用书,对从事X射线衍射工作的技术人员和科研工作者也是很好的参考工具书
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
O434.1/E0055577 | E0055577 | 罗庄校区—电子图书 | 可借 | 电子图书 |
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