MARC状态：已编 文献类型：电子图书 浏览次数：41
- 题名/责任者:
- 光电材料表征技术/季振国等著
- 出版发行项:
- 杭州:浙江大学出版社,2022.01
- ISBN及定价:
- 978-7-308-21953-2/CNY78.00
- 载体形态项:
- 231页:图;25cm
- 个人责任者:
- 季振国 著
- 学科主题:
- 光电材料-研究
- 中图法分类号:
- TN204
- 相关题名附注:
- 封面英文题名：Characterization technologies for optoelectronic materials
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术，并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、电学性能测量等部分。本书从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术，重在介绍各种技术在材料领域的应用，以用为主，具有较强的科学性和实用性。
- 使用对象附注:
- 光电材料研究人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN204/E0012933 | E0012933 | 罗庄校区—电子图书 | 可借 | 电子图书 |
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