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题名/责任者:

太赫兹光电测试技术/谭智勇，曹俊诚著

出版发行项:

上海:华东理工大学出版社有限公司,2020.10

ISBN及定价:

978-7-5628-6102-7 精装/CNY278.00

载体形态项:

254页:图;24cm

并列正题名:

Terahertz photoelectric measurement technology

个人责任者:

谭智勇 著

个人责任者:

曹俊诚 著

学科主题:

电磁辐射-研究

学科主题:

光电检测-测试技术

中图法分类号:

O441.4

中图法分类号:

TN206

一般附注:

上海出版资金项目

一般附注:

战略前沿新技术—太赫兹出版工程/曹俊诚主编

提要文摘附注:

本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发，介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点，阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点，最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。

使用对象附注:

本书可作为太赫兹领域科研人员和相关学科研究生的参考书和工具书，亦可供有关工程技术人员参考

电子资源:

http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=27d0fb30001adfXXXX

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