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题名/责任者:

互换性与技术测量基础/王莉静，郝龙，吴金文主编

出版发行项:

武汉:华中科技大学出版社,2020.01

ISBN及定价:

978-7-5680-5976-3/CNY38.00

载体形态项:

229页:图;26cm

个人责任者:

郝龙 主编

个人责任者:

吴金文 主编

学科主题:

零部件-教材-互换性-高等教育

学科主题:

零部件-教材-技术测量-高等教育

中图法分类号:

TG801

一般附注:

普通高等教育“十三五”规划教材暨智能制造领域人才培养规划教材

提要文摘附注:

本书分为8章，主要包括我国公差与配合方面的最新标准，阐述了技术测量的基本原理，主要包括绪论，测量技术基础，极限与配合，几何公差，表面粗糙度及其评定等。

使用对象附注:

高校机械类相关专业师生

电子资源:

http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=2aa1d30c00007dXXXX

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