MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：47
- 题名/责任者:
- 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析/武晔卿编著
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-0822-7/CNY36.00
- 载体形态项:
- 247页:图;24cm
- 丛编项:
- 博客藏经阁丛书
- 个人责任者:
- 武晔卿 (系统设计) 编著
- 学科主题:
- 微处理器-系统设计
- 中图法分类号:
- TP332
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了嵌入式系统设计中，哪些地方最可能带来可靠性隐患，以及从设计上如何进行预防。具体内容包括：启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法；降额参数和降额因子的选择方法；风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TP332/3 | 0140905 | 罗庄校区—书库四 | 可借 | |
| TP332/3 | 0140906 | 罗庄校区—书库四 | 可借 | |
| TP332/3 | 0140907 | 罗庄校区—书库四 | 可借 |
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