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题名/责任者:

CMOS集成电路闩锁效应/温德通编著

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2020.03

ISBN及定价:

978-7-111-64587-0/CNY99.00

载体形态项:

16,230页:彩图;24cm

并列正题名:

Latch-up in CMOS intergrated circuits

丛编项:

IC工程师精英课堂

个人责任者:

温德通 编著

学科主题:

CMOS电路-短路电流-测试方法

中图法分类号:

TN432.07

相关题名附注:

封面英文题名：Latch-up in CMOS intergrated circuits

提要文摘附注:

本书共分为十一章，主要内容包括：CMOS集成电路寄生双极型晶体管、闩锁效应的分析方法、闩锁效应的物理分析、闩锁效应的业界标准和测试方法等。

使用对象附注:

电路设计人员，IC工程师

电子资源:

http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=27d909b7005fbeXXXX

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