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题名/责任者:

嵌入式系统中的辐射效应/(法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco)，(法)帕斯卡·弗埃雷特(Pascal Fouillat)，(巴西)里卡多·赖斯(Ricardo Reis)等著 黄云[等]译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2018.01

ISBN及定价:

978-7-111-58286-1/CNY79.00

载体形态项:

11,234页:图;24cm

并列正题名:

Radiation effects on embedded systems

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

弗埃雷特 (法) (Fouillat, Pascal) 著

个人责任者:

赖斯 (巴西) (Reis, Ricardo) 著

个人次要责任者:

黄云 译

学科主题:

微型计算机-系统设计

中图法分类号:

TP360.21

版本附注:

由Springer授权出版

提要文摘附注:

本书由法国TIMA实验室的Raoul Velazco、法国波尔多第一大学的Pascal Fouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的Ricardo Reis共同编著，从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

使用对象附注:

本书适合专业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工程化应用的技术人员

电子资源:

http://www.cxstar.com/Book/Detail?pinst=P6u77RH0me5oQF0l5w3&ruid=26c3d6a1002e4cXXXX

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